Pour encore mieux répondre aux exigences de nos clients et à la miniaturisation croissante des composants électroniques, le laboratoire CERB s'est rapproché de son partenaire équipé d'un Microscope Electronique à Balayage (M.E.B.) type JEOL JSM IT 200 couplé à une sonde d'analyse dispersive en énergie EDS.

Le MEB permet l'observation à très fort grossissement (>100.000) des matériaux et composants conducteurs électriquement.
Les matériaux non conducteurs ou isolants doivent subir une métallisation Au-Pd ou Carbone.

La sonde EDS couplée à l’imagerie permet la détection des photons X émis par l’échantillon lorsqu’il est bombardé par le faisceau d’électrons. Elle permet en outre, grâce à la cartographie X, d'obtenir une image de ces éléments par rapport à l'échantillon observé. L’énergie de ces photons est caractéristique des éléments chimiques présents.