Le MEB permet l’observation à de très forts grossissements (>100.000) des matériaux et composants conducteurs électriquement. Les matériaux non conducteurs ou isolants doivent subir une métallisation Au-Pd ou carbone.
La sonde EDS fournit une indication qualitative précise des éléments constitutifs d’un échantillon ainsi qu’une indication quantitative par analyse semi-quantitative, à partir du βe. Elle permet en outre grâce à la cartographie X d’obtenir une image de ces éléments par rapport à l’échantillon observé.
Pour mieux répondre aux exigences de nos clients et à la miniaturisation croissante des composants électroniques la société CERB s’est équipée d’un microscope électronique à balayage (MEB) HITACHI couplé à une sonde d'analyse dispersive en énergie EDS.
M.E.B et analyse EDS:
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